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測試服務

測試服務

Testing service

表面形貌測試
探針式表面輪廓儀:
P-7 是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統(tǒng),歷經技術積累和不斷迭代更新,集合眾多技術優(yōu)勢。P-7建立在市場P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng) 的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的卓越測量性能,并作為臺式探針 輪廓儀平臺提供了極高的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲 度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
主要功能
臺階高度:幾納米至1000μm
微力恒力控制:0.03至50mg
樣品全直徑掃描,無需圖像拼接 ? 視頻:500萬像素高分辨率彩色攝像機
圓弧校正:消除由于探針的弧形運動引起的誤差
生產能力:通過測序,模式識別和SECS / GEM實現全自動化


為什么深硅刻蝕中C4F8能起到鈍化作用?
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2024-11-27

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2024-11-29

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2024-11-04

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2024-11-05

在半導體芯片制造中,從原材料處理到最終封裝測試,整個流程涉及上千道工序,每一環(huán)節(jié)都需要精確控制,以確保芯片的性能與質量。隨著科技的飛速發(fā)展,...

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